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    表面化學(xué)分析

    表面化學(xué)分析

    CMA認(rèn)證科研檢測機構(gòu)

    集體所有制研究所

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    原創(chuàng)版權(quán) 發(fā)布時間:2022-04-02 10:47:17 更新時間:2025-04-30 21:56:53 咨詢量:1 來源:其他檢測中心

    注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望見諒。

    表面化學(xué)分析去哪里?北檢院檢測機構(gòu)介紹北檢院檢測平臺為綜合性第三方檢測機構(gòu),具有豐富的檢測經(jīng)驗。北檢院實驗室可根據(jù)表面化學(xué)分析的相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn),并提供表面化學(xué)分析報告,可在全國范圍內(nèi)使用并被認(rèn)可。

    分析周期:7-15個工作日

    分析費用:工程師根據(jù)檢測項目進行報價

    分析范圍

    斷口,Si3N4粉體,碳纖維,燒結(jié)奧氏體不銹鋼粉末,玻璃襯底,硅片,摻雜物,木材,鋁合金,納米材料,泡沫塑料,白云母,聚丙烯腈基,鈦合金等。

    分析項目

    輝光放電發(fā)射光譜檢測,濺射深度剖析,二次離子質(zhì)譜檢測,X射線光電子能譜儀檢測,俄歇電子能譜檢測,全反射X射線熒光光譜法(TXRF)檢測,納米結(jié)構(gòu)材料表征等。

    表面化學(xué)分析

    分析參考標(biāo)準(zhǔn)

    GB/T 19499-2004表面化學(xué)分析一數(shù)據(jù)傳輸格式

    GB/T 19502-2004表面化學(xué)分析一輝光放電發(fā)射光譜方法通則

    GB/T 20175-2006表面化學(xué)分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質(zhì)的優(yōu)化方法

    GB/T 20176-2006表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度

    GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)的線性

    GB/T 22571-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

    GB/T 22572-2008表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 用多δ層參考物質(zhì)評估深度分辨參數(shù)的方法

    GB/T 25185-2010表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告

    GB/T 25186-2010表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 由離子注入?yún)⒖嘉镔|(zhì)確定相對靈敏度因子

    GB/T 25187-2010表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述

    GB/T 28632-2012表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測定

    GB/T 28633-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 強度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

    GB/T 28892-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述

    GB/T 28893-2012表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息

    GB/T 28894-2012表面化學(xué)分析 分析前樣品的處理

    GB/T 29556-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定

    GB/T 29557-2013表面化學(xué)分析 深度剖析 濺射深度測量

    GB/T 29558-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 強度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

    GB/T 29559-2013表面化學(xué)分析 輝光放電原子發(fā)射光譜 鋅和/或鋁基合金鍍層的分析

    GB/T 29731-2013表面化學(xué)分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)

    GB/T 29732-2013表面化學(xué)分析 中等分辨率俄歇電子譜儀 元素分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)

    GB/T 29732-2021表面化學(xué)分析 中等分辨俄歇電子能譜儀 元素分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)

    GB/T 30701-2014表面化學(xué)分析 硅片工作標(biāo)準(zhǔn)樣品表面元素的化學(xué)收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定

    GB/T 30702-2014表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南

    GB/T 30704-2014表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南

    GB/T 30815-2014表面化學(xué)分析 分析樣品的制備和安裝方法指南

    GB/Z 32490-2016表面化學(xué)分析X射線光電子能譜確定本底的程序

    北檢院服務(wù)流程是什么?

    1、確定需求,與工程師進行溝通,提供方案。

    2、接收樣品,多渠道接收樣品(支持郵寄、上門取樣)。

    3、分析測試,工程師進行樣品測試。

    4、出具報告,根據(jù)樣品測試結(jié)果,提供科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膱蟾妗?/p>

    5、售后服務(wù),寄送發(fā)票及報告,跟進后續(xù)技術(shù)支持。

    以上就是關(guān)于表面化學(xué)分析的相關(guān)內(nèi)容,更多測試需求,你可聯(lián)系我們在線實驗室工程師,為您詳細(xì)洽談實驗周期及流程問題!

    檢測流程

    1、收到客戶的檢測需求委托。

    2、確立檢測目標(biāo)和檢測需求

    3、所在實驗室檢測工程師進行報價。

    4、客戶前期寄樣,將樣品寄送到相關(guān)實驗室。

    5、工程師對樣品進行樣品初檢、入庫以及編號處理。

    6、確認(rèn)檢測需求,簽定保密協(xié)議書,保護客戶隱私。

    7、成立對應(yīng)檢測小組,為客戶安排檢測項目及試驗。

    8、7-15個工作日完成試驗,具體日期請依據(jù)工程師提供的日期為準(zhǔn)。

    9、工程師整理檢測結(jié)果和數(shù)據(jù),出具檢測報告書。

    10、將報告以郵遞、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。

    檢測實驗室(部分)

    檢測優(yōu)勢

    1、綜合性檢測技術(shù)研究院等多項榮譽證書。

    2、檢測數(shù)據(jù)庫知識儲備大,檢測經(jīng)驗豐富。

    3、檢測周期短,檢測費用低。

    4、可依據(jù)客戶需求定制試驗計劃。

    5、檢測設(shè)備齊全,實驗室體系完整

    6、檢測工程師專業(yè)知識過硬,檢測經(jīng)驗豐富。

    7、可以運用36種語言編寫MSDS報告服務(wù)。

    8、多家實驗室分支,支持上門取樣或寄樣檢測服務(wù)。

    結(jié)語

    以上是關(guān)于表面化學(xué)分析的檢測服務(wù)介紹,僅展示了部分檢測樣品和檢測項目,如有其它需求或疑問請咨詢在線工程師。

    標(biāo)簽:表面化學(xué)分析
     
    咨詢工程師
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